用于测量介质电阻的方法不适用于测量低电阻。这是由于引线和触点的电阻虽然小，但与被测低电阻相比是可以察觉的。
伏特计-安培计测量低电阻的方法
由于这种方法简单，通常用于测量低电阻时，准确度为1%就足够了。然而，用于这种测量的电阻元件需要有特殊的结构。低阻由四个端子构成，如下图所示:
一对端子CC '，称为电流端子，用于引导电流到电阻器或从电阻器流出。电阻上的压降是测量另一对端子PP '之间的，称为电位端子。伏特计表示的电压简单地说就是电阻器在电位端子PP '上的压降。
并且不包括可能存在于当前端子CC的任何接触电阻下降。
然而，由于在电位电路中涉及的高电阻，因此潜在终端PP的接触率较少，因为通过这些触点的电流非常小（在“零”平衡条件下均匀零）。
在这种情况下，未知电阻RX的值由伏特计读数/安培计读数给出
开尔文测量低电阻的双桥法
Kelvin的双桥方法是测量低电阻的最佳可用方法之一。实际上是惠斯通桥的修改，其中可以消除由于触点和铅电阻引起的误差。
Kelvin的双桥包括第二组比率臂，即P和Q组的想法，因此名称'双桥。节点A和B处的潜在的不平衡条件必须是相等的，以便电流计G给出“空”偏转。由于在平衡，没有电流流过电流计，可以被认为是开放的。
电位器测量低电阻的方法
未知电阻X与一个标准的已知电阻s串联起来。电路中通过安培计的电流由一个变阻器控制。采用双刀双掷开关。当开关处于1-1 '位置时，未知电阻X连接到电位器上，而当开关处于2-2 '位置时，则
标准电阻S连接到电位器上。
因此，通过开关位1-1'，电位计读数是横跨未知电阻的电压降Vx =我* X
